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探傷儀探頭MB5S美國(guó)GE
詳細(xì)信息品牌：美國(guó)GE 型號(hào)：MB5S 加工定制：否 是否進(jìn)口：是 型號(hào)：MB5S 加工定制：否 MB5S探傷儀探頭美國(guó)GE
美國(guó)GE探傷儀直探頭 B..S和MB..S：這類探頭的公差分布范圍窄，對(duì)目前大多數(shù)的測(cè)試任務(wù)來(lái)說(shuō)（例如平板物、條狀物和方形輪廓物體的測(cè)試，以及容器和螺釘、螺孔和外殼等的測(cè)試），可以達(dá)到*高的精度要求。對(duì)于由多種材料（例如所有的金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）構(gòu)成的形狀簡(jiǎn)單的部件的測(cè)試也可以達(dá)到高精度要求。
特性：在粗糙表面上具有穩(wěn)定的耦合性
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡(jiǎn)短 注釋說(shuō)明
O= 提供探頭數(shù)據(jù)表
O= 提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋，見(jiàn)第4頁(yè)中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見(jiàn)第37頁(yè)中聲束形狀編號(hào)。
可按用戶需求提供其它衰減值（帶寬）、連接插座、頻率或單元尺寸的探頭。類型
[訂購(gòu)號(hào)碼]D[mm] [mm] f [MHz] AB N [mm] EB [mm] 聲束形狀
編號(hào)備注 草圖 特性帶寬：25% B0.5SL
B1SL
B2SL34
34
300.5
1
2175-480
80-1600
40-310023
46
7110
8
50.5-34
1-34
2-30類型1 B1S
B2S
B4S
B5S24
24
24
241
2
4
570-1200
23-3000
15-3000
15-600023
45
88
1106
5
3
31-24
2-24
4-24
5-24提供連接器頂端類型B.S-O 類型2 MB2S
MB4S
MB5S10
10
102
4
530-800
15-1500
10-20008
16
204
3
32-10
4-10
5-10提供連接器頂端類型MBS-O 類型3 特性帶寬：60% K0.5S
K1S
K0.5SM
K1SM34
34
28
280.5
1
0.5
1100-250
50-1350
80-145
40-78023
46
15
3110
6
8
60.5-34
1-34
0.5-28
1-28具有強(qiáng)聲波衰減的材料試的粗粒探頭 類型1
類型1
類型2
類型2合成單元，特性帶寬：80% K1SC
K2SC
MK1S
MK2S
MK4S24
24
10
10
101
2
1
2
435-1200
18-3000
30-350
15-700
10-130023
45
4
8
166
3
6
3
21-24
2-24
1-10
2-10
4-10粗粒探頭 特別適合于拉鏈技術(shù)中塑料的測(cè)試 類型2
類型3附件描述 類型 備注 保護(hù)膜
（1組=10片）
延遲線或延遲楔
探頭電纜（2米）耦合劑
DGS標(biāo)尺ES57
ES45
ES24
承索
PKLL2
MPKL2
ZG-F用于B..SL;K..S
用于B..S;K..SM;K..SC
用于MB..S;MK..S
如用于高溫下的測(cè)試
用于B..和K..
用于MB..S；MK..S
見(jiàn)36頁(yè)
見(jiàn)35頁(yè)
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留 言
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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