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美國(guó)GE塑料楔塊斜探頭WK70-2
詳細(xì)信息品牌：美國(guó)GE 型號(hào)：WK70-2 加工定制：否 用途：用于接觸式檢測(cè)方法的探頭 是否進(jìn)口：是 加工定制：否 美國(guó)GE塑料楔塊斜探頭WK70-2
美國(guó)GE塑料楔塊斜探頭 通常：直探頭不能到達(dá)的或者與表面成一定角度或垂直方向分布的缺陷的探測(cè)和評(píng)估。 WB..和WK..：用于由非合金或低合金鋼制成的大物體的測(cè)試（如厚壁容器、轉(zhuǎn)軸、所有厚的焊接件）。WK..探頭產(chǎn)生非常短的回波脈沖。
特性：大的外形、大的深度時(shí)具有窄的聲波場(chǎng)
注釋?zhuān)?/span>
粗體=首選探頭，帶簡(jiǎn)短注釋說(shuō)明
O=提供探頭數(shù)據(jù)表
O=提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋?zhuān)?jiàn)第4頁(yè)中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見(jiàn)第37頁(yè)中聲束形狀編號(hào)。類(lèi)型
[訂購(gòu)號(hào)碼]a×b [mm]
N [mm]f [MHz] B 1) [Grad] AB* [mm] EB [mm] 聲束形狀
編號(hào)備注 草圖 特性帶寬：40% WB45-1
WB60-1
WB70-1
WB35-2
WB45-2
WB60-2
WB70-2
WB80-2
WB90-2
WB35-4
WB45-4
WB60-4
WB70-420×22 1
1
1
2
2
2
2
2
2
4
4
4
445
60
70
35
45
60
70
80
90
35
45
60
7020-1300
20-1200
17-1000
15-2700
10-2700
06-2500
05-2200
09-2000
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10-3500
06-5000
05-4000
03-370045
45
45
90
90
90
90
90
95
180
180
180
1806
6
6
4
4
4
4
4
4
2
2
2
21-20×22
1-20×22
1-20×22
2-20×22
2-20×22
2-20×22
2-20×22
-
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4-20×22
4-20×22
4-20×22
4-20×221) 3255m/s
提供連接器
頂端:Wb..-01
-02
-04
生成表面波
*)用于無(wú)衰減
材料時(shí)規(guī)定的
工作范圍上限類(lèi)型21 合成單元，特性帶寬：70% WK45-1
WK60-1
WK70-1
WK45-2
WK60-2
WK70-220×22 1
1
1
2
2
245
60
70
45
60
7010-1500
10-1400
9-1300
8-3000
5-2800
4-250045
45
45
90
90
905
5
5
3
31-20×22
1-20×22
1-20×22
2-20×22
2-20×22
2-20×22類(lèi)型21 SWK45-2
SWK60-2
SWK70-214×14 2
2
245
60
704-3500
4-3100
4-260039
39
393
3
32-14×14
2-14×14
2-14×14類(lèi)型20
附件描述 類(lèi)型 備注 探頭電纜（2米）
備用件
(1件=10片)
耦合劑
DGS標(biāo)尺PKLL2
MPKl2
WP(E)
SWP
ZG-F用于WB.., WK..
用于SWB.., SWK..
用于WB.., WK..
用于SWB.., SWK..
見(jiàn)36頁(yè)
見(jiàn)35頁(yè)
美國(guó)GE超聲波探頭
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過(guò)水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測(cè)試）
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
探頭分為兩大類(lèi)：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
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留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
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http://www.yhmsilicone.com
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產(chǎn)品分類(lèi)
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
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- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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