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美國GE測厚探頭DA305
詳細信息| 詢價留言品牌：美國GE 型號：DA305 加工定制：否 用途：適合于壁厚測量 是否進口：是 加工定制：否 美國GE測厚探頭DA305
美國GE測厚探頭 用于壁厚測量的探頭，特別地與我們的數(shù)字測厚儀相匹配。測厚儀 量程 [mm] 短號碼 [訂購號碼] 接觸面積Ø [mm] f [MHz] 溫度 [℃] 電纜 備注 DM4.. 1.2-200
0.6-50DA301
DA31212.5
7.55
1020 +60
-20 +60DA231
DA2355-300
7-60DA303
DA0.8G17
292
0.8-20 +60
-10 +60DA231
DA2312-80
1.0-15
5-150
4-60
1-50DA317
DA319
DA315
DA305
HT40012.5
7.5
17
16
135
10
2
5
525 +300
25 +300
25 +300
10 +600
-10 +540DA233
DA233
DA233
DA235
KBA535短時間接觸 0.6-20
0.7-12DA312B11 DA312B16 4
310
10-20 +60
-20 +60固 定 1 . 5 米 電 纜 對話技術(shù) 1.2-200
0.6-50DA401
DA41212.5
7.55
10-10 +60
-10 +60DA231
DA2355-300
7-60DA403
DA40817
292
0.8-10 +60
-10 +60DA231
DA231
美國GE超聲波探頭
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設(shè)計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標準探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果
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