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紙張測(cè)厚儀MX-1100美國(guó)Oakland
產(chǎn)品型號(hào)： MX-1100 品 牌： 美國(guó)Oakland 價(jià)格電議,您可以向供應(yīng)商詢價(jià)得到該產(chǎn)品價(jià)格 所 在 地： 廣東深圳 更新日期： 2025-04-30 詳細(xì)信息品牌：美國(guó)Oakland 加工定制：否 型號(hào)：MX-1100 類型：薄膜 測(cè)量范圍：0 - 7.5 mm 顯示方式：數(shù)字 電源電壓：220 V 外形尺寸：25 0x 25 0x 280 mm 顯示方式：數(shù)字 紙張測(cè)厚儀MX-1100美國(guó)Oakland簡(jiǎn)介：
儀器特性：■操作簡(jiǎn)單 三種操作模式：手動(dòng)，數(shù)字和軟件�？赏饨哟蛴C(jī)或第三方軟件以顯示分析圖表和統(tǒng)計(jì)值。
■提供離散點(diǎn)測(cè)量和厚度輪廓測(cè)量 測(cè)頭可自動(dòng)升降。
■豐富的擴(kuò)展功能 可外接打印機(jī)，電腦和*軟件。
技術(shù)參數(shù)：
泰立儀器代理銷售全球各大品牌：超聲波測(cè)厚儀，涂層測(cè)厚儀，紙張測(cè)厚儀，薄膜測(cè)厚儀。 可測(cè)樣品 所有的薄膜和薄片材料 測(cè)量范圍 0 - 50mil，0 - 100mil，0 - 200mil，0 - 300mil 或0 - 1270um，0 - 2540um，0 - 5080um，0 - 7620um 或0 - 1.3mm，0 - 2.5mm，0 - 5.0mm，0 - 7.5mm 或其他測(cè)量范圍 當(dāng)訂購公制單位時(shí)，請(qǐng)指定um或mm顯示 行程（探頭縮回高度） 對(duì)應(yīng)的測(cè)量范圍加1270um - 2540um 分辨率：0.01mil或0.1um或0.001mm，量程在0 - 200mil時(shí)； 0.1mil或1um或0.001mm，量程在0 - 300mil時(shí)。 精度 +/-0.02mil或+/-0.5um或+/-0.0005mm 平行度 +/-1.0um或更好 測(cè)頭尺寸 直徑4.3mm（薄膜）
直徑15.9mm（紙張）
或針對(duì)其他材料的其他尺寸測(cè)頭壓力 4.0 - 8.0psi（0.562kg/cm²），薄膜
7.3psi（0.513kg/cm²），紙張
或針對(duì)其他材料的其他設(shè)置循環(huán)速率 20/分鐘（40/分鐘，可選），薄膜
20/分鐘（12/分鐘，可選），紙張
或針對(duì)其他材料的其他設(shè)置下落速率 1mm/sec，紙張 儀器尺寸（寬x長(zhǎng)x高） 25 x 25 x 28 cm 標(biāo)準(zhǔn)配置 主機(jī)，標(biāo)準(zhǔn)厚度片，腳踏開關(guān) 選配件 打印機(jī)，質(zhì)量控制軟件（Quality Control Software） 符合標(biāo)準(zhǔn) ASTM D 374，TAPPI T-411，BS 2782-6，Din 53370
泰立儀器咨詢 QQ：--- -
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