美國(guó)GE貝克休斯歐式探頭

美國(guó)GE歐式探頭 指尖探頭B..F和MB..F：可以與探頭K..G和K..N相比較，但是由于扁平設(shè)計(jì)，它們非常適合于那些不容易接近的位置的測(cè)試。經(jīng)常被稱作"搜索探頭"。

帶硬質(zhì)陶瓷接觸表面的指尖式直探頭	特性：非常好的穿透性 /抗磨損性能好 / 扁平設(shè)計(jì)
B1F B2F B4F B5F	20 20 20 20	1 2 4 5	20-1300 10-4000 6-7500 6-10000	16 31 62 76	8 1 3 2.5	1-20 2-20 4-20 5-20
MB2F MB4F MB5F MB10F	10 10 10 10	2 4 5 6	13-2500 6-5000 5-6200 3-12000	8 16 19 36	4 3 2.5 2	2-10 4-10 5-10 10-10

探頭分為兩大類：接觸式和水浸式

接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè) 水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果