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美國(guó)GE超聲波探頭MWK60-2
詳細(xì)信息品牌：GE 型號(hào)：MWK60-2 加工定制：否 用途：測(cè)厚儀探頭 是否進(jìn)口：是 產(chǎn)地：美國(guó) 美國(guó)GE超聲波探頭
探頭分為兩大類(lèi)：接觸式和水浸式
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過(guò)水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測(cè)試）
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線(xiàn)聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
帶組合塑料楔塊的橫波斜探頭 特性：小外形，小深度到中等深度時(shí)有窄的聲波場(chǎng) MUWB2N
MUWB4N8×9
2
4對(duì)縱波和橫波，也有20×30mm MWB35-2
MWB45-2
MWB60-2
MWB70-2
MWB80-2
MWB90-28×9
2
2
2
2
2
235
45
60
70
80
9010-3300
5-3300
4-2900
4-2400
9-2200
提供連接器
[] 頂端:
[] MWB..-04
表面波MWB35-4
MWB45-4
MWB60-4
MWB70-4
MWB80-4
MWB90-48×9
4
4
4
4
4
435
45
60
70
80
907-5000
3-4600
3-4600
3-4200
5-1700
提供連接器
頂端:
MWB..-04
表面波MWK45-2
MWK60-2
MWK70-2
MWK45-4
MWK60-4
MWK70-48×9
2
2
2
4
4
445
60
70
45
60
704-3500
4-3100
4-2600
3-5000
3-5000
3-4700SMWK45-5
SMWK60-5
SMWK70-53 × 4
5
5
545
60
704-1500
4-1500
4-1500 -
留 言
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產(chǎn)品分類(lèi)
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- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
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- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
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- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線(xiàn)探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線(xiàn)數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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