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美國(guó)Dakota NDT帶AB掃描功能超聲波測(cè)厚儀MX1-DL / MX2-DL
產(chǎn)品型號(hào): MX1-DL / MX2-DL 品 牌: 美國(guó)Dakota NDT -
≧1 臺(tái)
¥23500.00
所 在 地: 廣東深圳 更新日期: 2025-06-01 詳細(xì)信息品牌:美國(guó)Dakota NDT 型號(hào):MX1-DL / MX2-DL 加工定制:否 測(cè)量范圍:0.63~508 mm 測(cè)量誤差:1% 測(cè)量分辨率:0.01mm 數(shù)據(jù)存儲(chǔ):4GB SD存儲(chǔ)卡 工作頻率:1 -7.5 MHz 外形尺寸:63.5x165x31.5mm mm
美國(guó)DAKOTA NDT 公司新推出的超聲波測(cè)厚儀MX2-DL,替代MVX 帶A/B掃描的大屏幕顯示,能夠滿足先進(jìn)的厚度應(yīng)用。符合NIST和MILSTD- 45662A標(biāo)準(zhǔn)。
特點(diǎn)
采用FPGA技術(shù)的100Hz數(shù)字信號(hào)處理器平臺(tái)設(shè)計(jì)
1/8英寸VGA灰色顯示,240x160象素屏幕,25Hz刷新頻率
手動(dòng)或自動(dòng)增益控制,根據(jù)測(cè)量模式選擇(50dB增益范圍)
內(nèi)置于探頭類型中的線性時(shí)間相關(guān)增益(TDG)
A-掃描(射頻、整流)、B-掃描和大數(shù)字顯示方式
兩個(gè)獨(dú)立的門
脈沖-回波(P-E)測(cè)量模式和回波-回波(E-E)測(cè)量模式
雙晶探頭
內(nèi)置4GB SD卡
通過USB Type-C連接到計(jì)算機(jī)
測(cè)量
脈沖-回波(P-E)模式測(cè)量范圍:0.63mm~30.48m(鋼)
回波-回波(E-E)模式測(cè)量范圍:2.54~152.4mm(鋼,穿過涂層測(cè)量,隨涂層厚度的不同,測(cè)量范圍也會(huì)變化)
分辨率:0.01mm
聲速范圍:309.88~18542m/s
單位:公制或英制
校準(zhǔn):一點(diǎn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)方式
顯示
顯示屏:1/8英寸VGA灰色顯示,240x160象素?梢晠^(qū)62x45.7mm,EL背光
A-掃描方式:檢波+/-(缺陷視場(chǎng)),RF(全波視場(chǎng))。25Hz刷新頻率
B-掃描方式:基于時(shí)間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個(gè)讀數(shù)
大數(shù)字方式:標(biāo)準(zhǔn)厚度顯示,數(shù)字高度17.78mm
厚度條形掃描:速度10Hz,在B-掃描和大數(shù)字顯示中可見
穩(wěn)定度指示:表示測(cè)量值的穩(wěn)定性
超聲波參數(shù)
測(cè)量模式:脈沖-回波(P-E)模式,回波-回波(E-E)模式(穿過涂層)
脈沖:可調(diào)方波脈沖發(fā)生器
接收:根據(jù)選擇模式在50dB范圍內(nèi)采用手動(dòng)或AGC增益控制
計(jì)時(shí):?jiǎn)未?00MHz8位超低功耗數(shù)字化儀的精確TCXO計(jì)時(shí)
脈沖重復(fù)頻率:250Hz
頻率范圍:1~10MHz
雙晶探頭
LEMO接口,1.2米探頭線
存儲(chǔ)
容量:內(nèi)置4GB SD卡
數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu):網(wǎng)格(字母數(shù)字)
截屏功能:位圖圖形捕獲,用于快速記錄
數(shù)據(jù)輸出:通過USB Type-C連接的計(jì)算機(jī)
功能
設(shè)置:64個(gè)用戶定義設(shè)置,用戶也可編輯出廠設(shè)置
探頭類型可選:內(nèi)置雙路誤差校正,提高線性度
閘門:兩個(gè)獨(dú)立閘門
報(bào)警模式:上下限視聽報(bào)警
快速掃描模式:每秒250個(gè)讀數(shù),當(dāng)探頭離開時(shí)顯示*小值
其他
鍵盤:12個(gè)觸摸鍵
電源:標(biāo)配為三節(jié)5號(hào)堿性電池 ,可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無操作五分鐘后自動(dòng)關(guān)機(jī)。USB Type-C供電
外殼:擠壓鋁機(jī)殼,底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝
工作溫度:-10~60℃
尺寸:63.5x165x31.5mm
重量:含電池385g
包裝:ABS工程塑料箱
出廠證書:工廠校準(zhǔn)可追溯到NIST和MILSTD- 45662A標(biāo)準(zhǔn)型號(hào) 頻率 探頭晶片直徑 探頭防磨面直徑 測(cè)量范圍 說明 T-102-2700 5.0MHz 6.35mm 9.53mm 1.0~152mm 標(biāo)準(zhǔn)高阻抗探頭 T-101-2700 5.0MHz 4.76mm 6.35mm 1.0~50mm 小管徑高阻抗探頭 T-101-2000 5.0MHz 4.76mm 6.35mm 1.0~50mm 小管徑探頭 T-104-0000 1.0MHz 12.7mm 15.88mm 3.8~50.8mm(鑄鐵中) 鑄鐵探頭 T-104-9700 3.5MHz 12.7mm 15.88mm 2.5~100mm 高阻抗探頭 T-102-3300 7.5MHz 6.35mm 9.53mm 0.63~152mm 超薄探頭 T-104-2700 5.0MHz 12.7mm 15.88mm 1.27~508mm 超厚高阻抗探頭 T-104-2000 5.0MHz 12.7mm 15.88mm 1.27~508mm 超厚探頭 T-042-2700 5.0MHz 6.35mm 9.53mm 1.0~152mm 標(biāo)準(zhǔn)高溫高阻抗探頭,*高340℃ T-042-2000 5.0MHz 6.35mm 9.53mm 1.0~152mm 標(biāo)準(zhǔn)高溫探頭,*高340℃ T-044-2700 5.0MHz 12.7mm 15.88mm 1.27~508mm 超厚高溫高阻抗探頭,*高340℃ T-044-2000 5.0MHz 12.7mm 15.88mm 1.27~508mm 超厚高溫探頭,*高340℃ T-212-2001 5.0MHz 6.35mm 9.53mm 1.0~152mm 超高溫探頭,*高480℃ T-214-2001 5.0MHz 12.7mm 15.88mm 1.27~508mm 超厚超高溫探頭,*高480℃
備注:
測(cè)試高溫表面時(shí)需用高溫耦合劑
在回波-回波(穿透涂層)測(cè)量模式下,高阻抗探頭會(huì)有更好的表現(xiàn)
表中的測(cè)量范圍為脈沖-回波模式測(cè)量范圍
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留 言
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
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- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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