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貝克休斯Waygat超聲波測厚儀CL Go+
詳細信息| 詢價留言品牌：貝克休斯Waygat 型號：+ 加工定制：否 測量范圍：0.152 - 508 mm 測量誤差：0.5% 測量分辨率：0.001mm 數(shù)據(jù)存儲：32 GB 工作頻率：1 - 25 MHz 外形尺寸：175 × 111 × 50 mm 貝克休斯Waygat超聲波測厚儀CL Go+
Krautkrämer CL Go+ 以易于使用、緊湊和堅固的外包裝提 供全方位的功能。
- 卓越的精度、穩(wěn)定性和重復性
- 人體工學設計：輕巧、亮度高且顯示屏大
- 直觀導航，輕松進行檢測
- 3合1設備：可輕松升級為缺陷探傷儀、腐蝕檢測儀或精密測厚儀
微米級精度且堅固耐用Krautkrämer CL Go+ 擁有 0.001 毫米（0.0001 英寸）的高分辨率，可輕松應對各種常見應用。CL Go+精密測厚儀是一款多功能檢測設備，體積小巧但堅固耐用。
憑借其直觀的菜單和易于操作的按鍵控制，用戶可以專注于充分利用其各種功能。CL Go+還擁有強大的數(shù)據(jù)管理功能，方便用戶存儲和分析檢測數(shù)據(jù)。
每次測量充滿信心
在質量控制中，每次測量的準確性都非常重要。CL Go+在每次測量中提供了卓越的精確度、穩(wěn)定性和重復性
全新升級的用戶體驗
Krautkrämer CL Go+ 的設計以用戶為中心，配備明亮的大型彩色顯示屏，以獲得*大的可讀性。其小型且便攜的設計可實現(xiàn)單手操作，使其成為適合長時間檢測工作的人體工
程學解決方案。這種用戶友好的設計也延伸到了軟件界面。
通過五向按鍵和快速功能鍵的直觀導航可以輕松地瀏覽各種模式和功能。它還支持多種 Krautkrämer 精密探頭，提供了在各種檢測場景中的多樣性。
賦能更清晰檢測CL Go+能夠記錄大量數(shù)據(jù)，并以多種方式進行組織。它可以快速、輕松地將厚度數(shù)值存儲為文件形式。該功能完全可由用戶編程，每個文件可附帶存儲多達100,000個測量值。
該設備可以同時在SD卡上存儲多個文件，可提供高達16 GB的可用空間。
彌補知識差距CL Go+通過其雙模式功能彌補了知識的差距，其中包括“新手模式”和“專家模式”。這確保了在各種技能水平上的有效使用，使其成為每個團隊的多功能工具。
新手模式將測量過程簡化為三個步驟-選擇探頭、校準，然后即可進行測量。這使得即使是新手用戶也能輕松進行準確
測量。
專家模式提供了強大且可定制的設置，以滿足苛刻的應用需求。這使得經(jīng)驗豐富的人員能夠充分利用CL Go+的功能，并根據(jù)自己的特定需求進行調整。- 5英寸清晰明亮的顯示屏，在室內和室外都具有出色
的可見性 - 大尺寸的顯示減少眼部疲勞
- 出色的屏占比
- 輕巧便攜，單手操作
- 設計靈活，適用于左手或右手操作
- 集成的零點試塊，便于快速校準。
- 防滑支架
- 堅固耐用，適用于各種具有挑戰(zhàn)性的環(huán)境
- 符合IP67標準，經(jīng)過MIL 510測試
該設備采用先進的數(shù)字信號處理技術和自動增益控制，以在各種條件下提供穩(wěn)定的讀數(shù)。高分辨率的A掃描和閘門控制功能能夠優(yōu)化測量結果，確保準確性。主要特點包括：
- 采用有限脈沖響應上采樣和插值零交叉測量技術，提高測量穩(wěn)定性和可靠性。
- 自動增益控制，提高重復性。
- 多種校準和零點校準模式，確保一致的準確性。
- 多種測量模式，包括厚度、A掃描、B掃描、*小/*大值、差值、質量和聲速。
CL Go+聲速選項可用于確定已知厚度材料的聲速。用戶可 以輸入材料厚度，將探頭放置在零件上，CL Go+將顯示材料 的聲速。每個值都可以存儲在數(shù)據(jù)記錄器中，并可以下載到 個人電腦上。
適應您的需求作為一款用戶友好的高精度測厚解決方案，CL GO+ 特別適用于汽車、航空和航天工業(yè)中的零部件測量。它能有效地測量鋁、鋼、銅和青銅等材料制成的鑄件和沖壓金屬零
部件。此外，該儀器還適用于加工件、管材、化學切割零部件、金屬帶材、金屬板材、塑料和復合材料，甚至玻璃材料的測量。3合1平臺
CL Go+是Krautkrämer檢測設備系列的一部分，該系列還包括用于腐蝕厚度檢測的DMS Go+和用于傳統(tǒng)缺陷檢測的USM Go+。
作為CL Go+的客戶，您可以靈活升級您的設備，并將其用作腐蝕厚度測量儀、缺陷檢測儀或兩者兼而有之，有效地將其轉變?yōu)橐粋�多功能的3合1平臺。除了作為您檢測需求的便捷解決方案外，選擇這些選項還可以享受更低的成本。
同樣，USM Go+和DMS Go+的用戶也可以更經(jīng)濟地為其現(xiàn)有設備添加CL Go+，而不是購買單獨的精密厚度測量儀。
貝克休斯Waygat超聲波測厚儀CL Go+技術規(guī)格
顯示屏
有效尺寸（寬×高） 108.0 × 64.8毫米，對角線5英寸 分辨率（寬×高） 800 × 480像素 對比度 ≥300 亮度 ≥200 cd/m² 范圍（顯示寬度） 正常模式下，在鋼中*大可達14米（551英寸），具體取決于探頭、材料和表面條件。 顯示延遲 0 … 3,500微秒 探頭延遲 0 … 1,000微秒 聲速 250 … 16,000 米/秒 讀數(shù)分辨率 0.001、0.01或0.1毫米（0.0001、0.001或0.01英寸），可在整個測量范圍內選擇 顯示模式 測厚、聲速、質量、A掃描、B掃描、*小/*大值、差值、數(shù)據(jù)記錄 連接器
探頭連接器 2× LEMO-00，機械反極性保護 USB接口 Micro USB連接器 服務接口 1× Mini-RS232C，僅用于服務目的 脈沖發(fā)生器
脈沖模式 方波脈沖 脈沖電壓 自動匹配到探頭（120伏或250伏） 脈沖上升/下降時間 *大10納秒 脈沖寬度 自動匹配到探頭 接收器
數(shù)字增益 110dB的動態(tài)范圍，自動增益控制，用戶可手動設置高、低和自動增益限制 存儲
存儲卡槽
標準SD卡的SD卡槽
容量
32GB，SD卡
數(shù)據(jù)集
每個文件可存儲100,000個測量值。可以將多個文件同時保存在SD卡上。
環(huán)境
電池
工作時間：滿電的情況下可達6小時 充電方式（標準）：內部充電器/電源適配器 充電方式（可選）：外部充電器 充電狀態(tài)：比例充電電量指示器
充電器/電源適配器
通用電源適配器100 … 240伏交流，50/60赫茲，符合CCC、CE、UL、CSA和PSE要求
尺寸（寬×高×深）
175 × 111 × 50毫米
重量：
850克（含電池）
防護
潮熱和濕度（存儲）
10個周期：10小時，+60 … +30攝氏度，10小時，+30 … +60攝氏度，2小時內過渡（507.4）
溫度沖擊（存儲）
3個周期：4小時，-20 … +60攝氏度，4小時，+60攝氏度，5分鐘內過渡（503.4，程序II）
振動
常規(guī)曝露：每個軸向1小時，514.5-5 程序I，附錄C，圖6
沖擊
每個軸向6個周期，15g，11毫秒，半正弦波（516.5 程序I）
潮熱和濕度（存儲）
10個周期：10小時，+60攝氏度到+30攝氏度，10小時，+30攝氏度到+60攝氏度，過渡時間不超過2小時（507.4）
運輸中松散貨物（在貨運容器中）
514.5 程序II
運輸中的跌落（包裝好的）
26次跌落，516.5 程序IV
外殼
根據(jù)IEC 529標準的IP67等級
工作溫度范圍
0 … 55攝氏度
儲存溫度范圍
-20 … +60攝氏度，包括電池在內
符合標準
EMC/EMI: EN 55011: EN 61000-6-2:2001
超聲波: ASTM E1324，E317，ANSI/NCSL Z 540-1-1994，
MIL STD 45662A，MIL STD 2154
貝克休斯Waygat超聲波測厚儀CL Go+探頭和附件
*除非另有說明，否則以上數(shù)據(jù)適用于低碳鋼材型號 訂貨號 類型 名義頻率 測量范圍* 探頭線 延遲塊 CA 211A 113-544-000 標準接觸式 5 MHz 1.52-508 mm (0.060-20.0”) 022-505-604 NA Alpha 2 DFR 113-527-660 標準延遲塊 15 MHz 0.18-25.4 mm (0.007-1.0”) 022-505-604 118-440-050 118-440-051 Alpha 2F 113-526-000 指尖接觸式 10 MHz 1.52-254 mm (0.060-10.0”) 022-505-604 NA CLF 4 113-527-665 標準延遲塊 15 MHz 0.18-25.4 mm (0.007-1.0”) 022-505-604 118-440-050 118-440-051 CLF 5 113-526-005 指尖接觸式 10 MHz 1.52-254 mm (0.060-10.0”) 022-505-604 NA 
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