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德國(guó)Belec高精度便攜式直讀光譜儀de-tect
詳細(xì)信息品牌：德國(guó)Belec 型號(hào)：de-tect 加工定制：否 光源：自選 波長(zhǎng)范圍：自選 nm 焦距：自選 mm 外形尺寸：自選 mm 重量：自選 g 適用范圍：自選 德國(guó)Belec貝萊克高精度便攜式直讀光譜儀
專門生產(chǎn)光發(fā)射直讀光譜儀，主要采用高穩(wěn)定性、準(zhǔn)確性及重復(fù)性的“光電倍增管”檢測(cè)系統(tǒng)，光學(xué)系統(tǒng)為帕邢-龍格裝置雙光譜室，羅蘭圓直徑300-500mm，可選用波長(zhǎng)由120-800nm，光柵為3600線/毫米，火花室采用低損耗烏電極，在同一系統(tǒng)上*多可升級(jí)到11個(gè)基體及108個(gè)通道，可檢測(cè)的金屬基體包括鋼鐵、鑄鐵、工具鋼、銅、鋁、鎳、鈦、鉆等。按照特殊的多基體應(yīng)用，可提供CCD感光系統(tǒng)的高性價(jià)比光譜儀。
Belec de-tect 高精度便攜式直讀光譜儀
·重量?jī)H12kg，可以攜帶到任何地方，較長(zhǎng)的線纜設(shè)計(jì)，能夠提供任何長(zhǎng)度 (標(biāo)準(zhǔn)3m，可選10m或以上長(zhǎng)度) 易于應(yīng)用并可與管道架連接
·低氳氣消耗量，降低使用成本
·堅(jiān)固的槍頭設(shè)計(jì)，含光學(xué)組件，在槍頭上進(jìn)行所有分析，無需顧慮因光纖老化而導(dǎo)致光強(qiáng)降低的問題。槍頭連屏幕，更便捷讀取分析數(shù)據(jù)
·便于使用的用戶界面
·集成、可定制牌號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)
·高準(zhǔn)確度和高精確度 (包括UV元素、C、P、S甚至微量元素)
·恒溫及堅(jiān)固外殼設(shè)計(jì)適應(yīng)于任何現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境
·適用于幾乎所有形狀和尺寸的適配器
·幾乎免維護(hù)操作
Belec Compact Port HLC 便攜式直讀光譜儀
·100%光電倍增管系統(tǒng)便攜式光譜儀主機(jī)
·體積小、重量輕，僅17公斤
·可選3種不同火花探頭
·可外接火花測(cè)量臺(tái)
·*多分析6個(gè)基體可達(dá)36個(gè)元素信道，包括C、P、S、N等元素
·分析時(shí)間僅13秒左右
·觸摸式顯示屏，便于現(xiàn)場(chǎng)使用
·全天候設(shè)計(jì)帶恒溫系統(tǒng)，抗干擾能力強(qiáng)
·低損耗及免維護(hù)的火花鎢電極，日常維護(hù)及備件成本低
·采用光柵精度為3600線/mm
·也可選用UV火花探頭
Belec OPTRON 經(jīng)濟(jì)型臺(tái)式光譜儀
·性價(jià)比高，占地空間小
·特別適合于少基體要求的客戶
·可分析*多3個(gè)基體共24個(gè)元素信道，包括C、P、S等元素
·分析時(shí)間僅15秒左右
·火花臺(tái)內(nèi)氳氣流的防污染設(shè)計(jì)
·低損耗及免維護(hù)的火花鎢電極，日常維護(hù)及備件成本低
·可測(cè)量從直徑0.5毫米的線材、管材等
·采用光柵精度為3600線/mm
·100%CCD系統(tǒng)
Belec IN-SPECT 高精度式光譜儀
·采用蔡司制造的3600刻線/mm高精度光柵
·火花臺(tái)內(nèi)的透鏡無需清潔 (免維護(hù))
·低損耗鎢電極 (不需要更換，也不需要重新打磨)，一個(gè)電極可用于多種基體
·高品質(zhì)CCD，能分析寬闊波長(zhǎng)的成份含量
·成熟的CCD光譜室，對(duì)于所有基體具有穩(wěn)定的檢測(cè)結(jié)果，如：Fe、Ni、Cu、Al、Zn、Pb等
·元素?cái)?shù)量不限
·分析程序數(shù)量不限
·可分析如Li、Na、K、N等特殊元素
·采用具有多個(gè)參考元素信道的MCDC (多矩陣通道漂移校正)能長(zhǎng)期保持穩(wěn)定
·創(chuàng)新的曲面鏡設(shè)計(jì)，聚焦光線能覆蓋單個(gè)CCD整個(gè)表面
·雙光譜分析儀
·不需要抽真空，也不需要進(jìn)行光室的維護(hù)
Belec Vario Lab 2P/2C 落地式直讀光譜儀
·同一設(shè)備可安裝3個(gè)光譜室
·可分析*多11個(gè)基體共108個(gè)元素信道，包括C、P、S、N等元素
·可同時(shí)選擇火花臺(tái)及3種不同的火花探頭--可在非破壞條件下分析大型工件
·分析時(shí)間僅為13秒左右
·火花臺(tái)內(nèi)氳氣流的防污染設(shè)計(jì)
·低損耗及免維護(hù)的火花鎢電極，日常維護(hù)及備件成本低
·可測(cè)量從小至直徑0.5毫米的線材到不計(jì)尺寸大型工件
·可選擇帶氣體凈化器的氳氣光譜室系統(tǒng)或真空光譜室系統(tǒng)
·采用光柵精度為3600線/mm
·100% 采用光電倍增管系統(tǒng)，壽命長(zhǎng)，穩(wěn)定性高；或可選擇CCD，性價(jià)比高
光譜儀軟件
Belec Win 21軟件 (可選多國(guó)語言，包括中文)
·可選多國(guó)語言，包括中文、英文、日文、韓文、德文、西班牙等十多種語言
·自動(dòng)顯示分析結(jié)果和多次測(cè)量的平均值、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差和絕對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差等，以及與預(yù)先輸入的材料數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行比較對(duì)分析結(jié)果作出評(píng)價(jià)
·在顯示分析結(jié)果的同時(shí)，可以自動(dòng)顯示材料牌號(hào)
·Belec光譜儀操作十分簡(jiǎn)單，特別適合于缺乏光譜分析經(jīng)驗(yàn)的人員使用
·為滿足中國(guó)用戶的需求，Win21軟件已可選擇中文操作模式，而操作接口的顯示排列方式更可以按照用戶的要求重整，以達(dá)到方便用戶使用的*終目的
手提激發(fā)槍
氯氣UV探頭“Argon UV Probe”
可以同時(shí)分析P和S，與C元素不同，因這兩個(gè)元素發(fā)射很短的波長(zhǎng)，不能用光纖光束傳送，需在探頭內(nèi)安裝一個(gè)細(xì)小的光譜室來解決這問題，探頭重量?jī)H1kg，使用非常方便。
氯氣標(biāo)準(zhǔn)探頭“Argon Standard Probe”
可進(jìn)行高精度分析大部份元素，包括C碳，使用專用的光學(xué)方法可以分析低至0.003%含量C元素，其分析精度達(dá)到了專用定碳儀的分析精度。
空氣探頭“Air Probe”
“混料分選”的常規(guī)應(yīng)用，一次分析時(shí)間小于2秒。在一次分析后顯示出近似的分析結(jié)果和材料牌號(hào)，也可發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
“5mm 孔直徑”
針對(duì)工件面積細(xì)小的平面，能提供特殊的小直徑適配器，直徑僅5mm也可與標(biāo)準(zhǔn)的11mm進(jìn)行快速替換。
適配器
適合于各種形狀零件和試樣的分析，如管材、棒材、直徑小至0.5mm的金屬絲、螺絲、金屬小珠等..
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留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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