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貝克休斯 探傷儀平板掃查器 PALM-UT
詳細(xì)信息品牌：貝克休斯 型號(hào)：PALM-UT 加工定制：是 類型：超聲波 測(cè)量范圍：根據(jù)自選探頭 分辨率：根據(jù)自選探頭 尺寸：儀器 295 x 230 x 60 mm 重量：儀器含電池 2.9 kg 分辨率：根據(jù)自選探頭 
貝克休斯 相控陣探傷儀平板掃查器 PALM-UT
將檢測(cè)工藝融合到應(yīng)用 用戶可以在 Mentor Create 軟件平臺(tái)自 已設(shè)計(jì)并創(chuàng)建檢測(cè)應(yīng)用 APP, 在設(shè)計(jì) APP 時(shí)，用戶可以將檢測(cè)工藝標(biāo)準(zhǔn)完全 融入 APP 中，根據(jù)檢測(cè)工藝設(shè)計(jì)檢測(cè) 流程，操作界面，操作菜單，顯示界 面，生成的 APP 可以運(yùn)行于所有的 Mentor UT 主機(jī)。*大限度降低對(duì)檢測(cè)人員的要求 APP向?qū)降臋z測(cè)工藝流程*大限度降低了對(duì)檢測(cè)人員的要求，在檢測(cè)工藝流程 中可以融入文檔，圖片，視頻等內(nèi)容，*大化降低檢測(cè)人員犯錯(cuò)的概率，降 低人為因素對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。
各種選配掃查器
為了滿足各種現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)要求，可以選配各種一維，二維掃查器實(shí)現(xiàn)手動(dòng)，半自動(dòng)，全自動(dòng)檢測(cè)
滿足各種檢測(cè)應(yīng)用要求管道容器腐蝕檢測(cè)
通過 Mentor UT 檢測(cè)腐蝕可以很容易實(shí)現(xiàn)大面積掃查，容易找到*嚴(yán)重腐蝕點(diǎn)，通過 C 掃描圖像直接顯示腐蝕輪廓，測(cè)量腐蝕大小，近表面分辨率達(dá) 2mm, 配備各種掃查器滿足各種工況要求，實(shí)現(xiàn)手動(dòng)，半自動(dòng)，全自動(dòng)掃查。
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留 言
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
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- 測(cè)厚儀探頭
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- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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