OLYMPUS 奧林巴斯渦流陣列探傷儀探頭OmniScan MX ECA/ECT

便攜式渦流（EC）探傷儀用于檢測(cè)金屬部件，其對(duì)工件表面和近表面缺陷的檢測(cè)性能非�？煽�。完整系列的便攜式探傷儀可以服務(wù)于各種各樣的應(yīng)用。渦流探頭生成磁場(chǎng)，磁場(chǎng)在被測(cè)工件中產(chǎn)生電流，電流又會(huì)影響磁場(chǎng)及線圈中電壓的量值及相位。這些探傷儀可以進(jìn)行的應(yīng)用包括對(duì)表面或近表面缺陷的探測(cè)，合金分揀，及螺栓孔的檢測(cè)。

                                     

OmniScan MX
經(jīng)過(guò)現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證的、可靠的儀器
OmniScan MX是一款已經(jīng)現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證、性能可靠的儀器，其機(jī)身結(jié)構(gòu)堅(jiān)固耐用，可以在嚴(yán)酷、惡劣的檢測(cè)環(huán)境中正常工作；現(xiàn)在世界上正在使用的OmniScan MX儀器有成千上萬(wàn)臺(tái)。這款儀器緊湊、輕巧，使用兩節(jié)鋰離子電池供電，在電池滿電量時(shí)，可以進(jìn)行長(zhǎng)達(dá)6小時(shí)的手動(dòng)或半自動(dòng)檢測(cè)。

OmniScan MX儀器的8.4英寸顯示屏可以實(shí)時(shí)顯示高清彩色圖像，在大多數(shù)光線條件下，操作人員都可以查看缺陷及其細(xì)微情況。用戶可使用飛梭旋鈕和功能鍵在儀器簡(jiǎn)潔、直觀的界面上輕松瀏覽，也可以將USB鼠標(biāo)連接到儀器，方便對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。
 

一個(gè)平臺(tái)、兩款模塊、三種技術(shù)：靈活適用性更強(qiáng)
為了滿足更廣泛應(yīng)用的要求，兩款模塊都提供渦流檢測(cè)（ECT）、渦流陣列（ECA）以及粘接檢測(cè)（BT）C掃描技術(shù)。兩款模塊都與MXE（ECT/ECA）和MXB（BT C掃描）軟件兼容；要做到這點(diǎn)，只需在各種技術(shù)之間進(jìn)行簡(jiǎn)單轉(zhuǎn)換，操作人員接受少許培訓(xùn)即可。
 

ECA與ECT別無(wú)二致 
覆蓋范圍廣，掃查速度快，檢出概率高
渦流陣列 (ECA) 技術(shù)融合了多種傳統(tǒng)的橋式或反射式（驅(qū)動(dòng)器-拾波器）探頭線圈，以便在一次掃查檢測(cè)中覆蓋更大的范圍。此外，每款ECA探頭型號(hào)都經(jīng)過(guò)精心設(shè)計(jì)，可在沿探頭長(zhǎng)度方向上的目標(biāo)缺陷范圍內(nèi)保持很高的檢出率。用戶在使用OmniScan MX ECA探傷儀時(shí)，可以非�？斓乃俣仁謩�(dòng)移動(dòng)ECA探頭進(jìn)行檢測(cè)，并借助彩色圖像和歸檔功能，完成性能強(qiáng)大、效率很高的檢測(cè)。
 

 透過(guò)薄涂層進(jìn)行檢測(cè)渦流檢測(cè)（ECT）技術(shù)基于以下磁耦合工作原理：接近被測(cè)工件（鐵磁性或非鐵磁性的導(dǎo)電材料）的探頭傳感器（線圈）在被測(cè)工件中產(chǎn)生渦流，并在儀器的阻抗圖中顯示信號(hào)。使用渦流技術(shù)時(shí)，只要探頭到金屬的距離保持在合理的近距離范圍內(nèi)，一般為0.5毫米到2.0毫米，就可以透過(guò)薄涂層（如：漆層）探測(cè)到材料中的缺陷。渦流陣列（ECA）和渦流檢測(cè)（ECT）技術(shù)基于相同的基本原理（和物理學(xué)理論），因此也可以透過(guò)漆層進(jìn)行檢測(cè)，而且ECA技術(shù)還具有以下優(yōu)勢(shì)：覆蓋范圍大、掃查速度快、檢出概率高，及可進(jìn)行彩色成像。