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Olympus奧林巴斯角度聲束探頭和楔塊型號(hào)可選
詳細(xì)信息品牌:Olympus 型號(hào):型號(hào)可選 加工定制:是 適用對(duì)象:探傷測(cè)厚儀探頭 型號(hào):型號(hào)可選 加工定制:是
探頭 - 單晶和雙晶探頭
奧林巴斯超聲探頭用于缺陷檢測(cè)、厚度測(cè)量、材料研究和醫(yī)療診斷。奧林巴斯提供4000多種探頭類型,其中包括:接觸式、雙晶、橫波、延遲塊和水浸式。如果您沒(méi)有在探頭目錄中找到需要的產(chǎn)品,我們可以為您定制特殊的探頭。
角度聲束探頭和楔塊
角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭,可以在被測(cè)工件內(nèi)部生成折射橫波或折射縱波。
微型角度聲束探頭和楔塊主要用于檢測(cè)焊縫的完整性。這種探頭和楔塊組合在一起的設(shè)計(jì),可以很容易地進(jìn)行來(lái)回掃查,并提供較短的接近距離。角度聲束探頭是一種單晶探頭,與楔塊一起使用時(shí),可以將折射橫波或折射縱波傳輸?shù)奖粶y(cè)工件中。
優(yōu)勢(shì)特性:
我們Accupath楔塊的三種材料設(shè)計(jì)提高了信噪比性能,同時(shí)還表現(xiàn)了出色的耐磨性能
高溫楔塊可對(duì)高溫材料進(jìn)行在役檢測(cè)
楔塊可自行定制,以創(chuàng)建非標(biāo)準(zhǔn)的折射角度
提供可互換式或整體式設(shè)計(jì)
提供弧面外形
可提供鋁制帶有標(biāo)準(zhǔn)折射角度的楔塊和整體式設(shè)計(jì)
應(yīng)用:
缺陷探測(cè)與定量
衍射時(shí)差探頭
檢測(cè)管道、管材、鍛件、鑄件、機(jī)加工部件和結(jié)構(gòu)部件,以探測(cè)到焊接缺陷或裂紋。
Accupath
小楔塊底面
尖頭設(shè)計(jì)允許探頭旋轉(zhuǎn),即使在探出部位接觸到焊冠時(shí)也是如此
可與10 MHz探頭一起使用的特殊楔塊設(shè)計(jì)
探頭配置器
這種楔塊配置器僅適用于1-5 MHz的微型旋入式短接近、Accupath、高溫、特高溫和表面波楔塊。
* 提供可以10 MHz頻率得到鋼中標(biāo)準(zhǔn)的30°、45°、60°、70°折射橫波角度的Accupath楔塊。
通過(guò)選擇訂購(gòu)編號(hào)要求報(bào)價(jià)或購(gòu)買探頭。
Accupath楔塊- 小楔塊底面
- 尖頭設(shè)計(jì)允許探頭旋轉(zhuǎn),即使在探出部位接觸到焊冠時(shí)也是如此
- 可與10 MHz探頭一起使用的特殊楔塊設(shè)計(jì)
Accupath和表面波楔塊尺寸*(微型旋入式) 所適用的標(biāo)稱晶片尺寸(英寸) 0.5 0.375 0.25 (A) (B) (C) (D) (A) (B) (C) (D) (A) (B) (C) (D) 30° 0.72 1.22 0.77 0.54 0.62 1.03 1.03 0.42 0.49 0.66 0.45 0.23 45° 0.70 1.03 0.73 0.38 0.60 0.85 0.61 0.32 0.43 0.61 0.43 0.235 60° 0.74 1.19 0.73 0.45 0.67 1.00 0.61 0.367 0.48 0.71 0.43 0.268 70° 0.79 1.34 0.73 0.50 0.69 1.12 0.61 0.406 0.50 0.81 0.43 0.305 90° 1.25 1.84 0.77 - 1.00 1.48 1.48 - 0.83 1.13 0.45 -
用于10 MHz探頭的微型旋入式楔塊標(biāo)稱晶片尺寸 楔塊工件編號(hào) 英寸 毫米 Accupath* 表面波90° 0.50 13 ABWM-5ST-X° ABWML-5ST-90° 0.375 10 ABWM-7ST-X° ABWML-7ST-90° 0.25 6 ABWM-4ST-X° ABWML-4ST-90°
短接近楔塊
短接近楔塊尺寸( 微型旋入式) 所適用的標(biāo)稱晶片尺寸(英寸) 0.5 0.375 0.25 (A) (B) (C) (D) (A) (B) (C) (D) (A) (B) (C) (D) 45° 0.70 1.03 0.73 0.38 0.60 0.85 0.61 0.32 0.43 0.61 0.43 0.235 60° 0.74 1.19 0.73 0.45 0.67 1.00 0.61 0.367 0.48 0.71 0.43 0.268 70° 0.79 1.34 0.73 0.50 0.69 1.12 0.61 0.406 0.50 0.81 0.43 0.305 -
留 言
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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