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olympus奧林巴斯超聲波測厚儀45MG/38DL
詳細(xì)信息| 詢價留言品牌：olympus 加工定制：否 型號：/38DL 類型：超聲波 測量范圍：0.08-635 mm 顯示方式：數(shù)顯 電源電壓：9 V 外形尺寸：91.1•x•162•x mm 顯示方式：數(shù)顯 奧林巴斯超聲波測厚儀45MG
對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進(jìn)行厚度測量
使用雙晶探頭
45MG測厚儀的一個主要應(yīng)用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結(jié)構(gòu)的剩余厚度。
這些應(yīng)用中*常使用的是雙晶探頭。
• • 用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能
• • 當(dāng)校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)雙回波時，會發(fā)出雙回波警告
• • 回波到回波/穿透涂層選項可測量帶有漆層和涂層的表面
• • 高溫測量：溫度可高達(dá)500•℃
B掃描成像（基于時間）
45MG儀器提供的B掃描功能，可在屏幕上將實時厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時，這個標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。探頭一接觸到材料表面，就會激活B掃描。凍結(jié)*小值功能用于顯示掃查區(qū)域的*小厚度值。可選45MG數(shù)據(jù)記錄器*多可存儲單個B掃描中的10000個厚度讀數(shù)。
高溫表面
45MG測厚儀配上D790系列探頭（D790、D790• -SM、•D790-RL和D790-SL），是測量高溫材料（溫度高達(dá)•500•℃ ）的理想選擇，并可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補償功能，通過補償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進(jìn)行測量的精確性。
對塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料•
進(jìn)行厚度測量
使用單晶探頭
用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種率、直徑和連接器類型的單晶探頭。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用，則必須購買單晶軟件或高穿透軟件選項。
• • 在使用頻率范圍為2.25•MHz到30•MHz的單晶探頭時，單晶軟件選項可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米的測量 值。
• • 高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• • 測量厚度、聲速或渡越時間。
• • 自動調(diào)用默認(rèn)設(shè)置和自定義設(shè)置用于當(dāng)前應(yīng)用的功能簡化了厚度測量操作。
單晶軟件選項•
用戶使用單晶軟件選項，可以完成分辨率高達(dá)0.001毫米的極為精確的厚度測量。
這個選項與范圍在2.25•MHz到30•MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
• • 大多數(shù)薄材料和厚材料
• • 壁厚薄如0.08毫米的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
• • 壁厚薄如0.10毫米的金屬容器、鋼圈板、機加工部件
• • 汽缸孔、渦輪葉片
• • 玻璃燈泡、瓶子
• • 薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料
• • 曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器
單晶高穿透軟件選項•
用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5•MHz）的情況下，測量橡膠、玻璃纖維、鑄件及復(fù)合材
料等較厚或聲波衰減性較強的材料。
這個選項包含單晶選項。
• • 大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強的材料
• • 厚鑄造金屬部件
• • 厚橡膠輪胎、履帶
• • 玻璃纖維船體、儲存罐
• • 復(fù)合材料板
• • 對于頻率范圍為0.5•MHz到1.0•MH的探頭，分辨率為0.01毫米
回波到回波/穿透涂層選項
回波到回波
測厚儀使用多個底面回波，顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：
• • 自動回波到回波•
• • • 手動回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項），可進(jìn)行以下操作：
• - 增益調(diào)整
• - 擴(kuò)展空白
• - 回波空白
穿透涂層技術(shù)
使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要得到金屬的厚度，無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。
應(yīng)用設(shè)置調(diào)用
應(yīng)用設(shè)置調(diào)用功能簡化了厚度測量操作。用戶在選擇了任何一個存儲探頭后，45MG測厚儀即會調(diào)出所有與這個內(nèi)置探頭相關(guān)的參數(shù)。
存儲的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置
45MG儀器帶有21個標(biāo)準(zhǔn)單晶探頭設(shè)置，可用于*常用的測量操作。這些默認(rèn)探頭設(shè)置可用于各種各樣的厚度測量應(yīng)用。
存儲的自定義設(shè)置
45MG可*多存儲35個自定義單晶探頭設(shè)置，其中還包括校準(zhǔn)信息。用戶可以連接適當(dāng)?shù)奶筋^，并調(diào)用設(shè)置文件，然后儀器便可進(jìn)行厚度測量，甚至還可完成*復(fù)雜的測厚應(yīng)用。
材料聲速測量
45MG儀器可以測量材料的聲速。在材料聲速與其它屬性密切相關(guān)的應(yīng)用中，這個標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。典型的應(yīng)用包括監(jiān)控鑄造金屬的球化程度，以及監(jiān)控復(fù)合材料/玻璃纖維的密度變化。
縮減率測量
差值模式和縮減率模式是45MG的標(biāo)準(zhǔn)功能。差值模式顯示實際厚度與預(yù)先設(shè)定的厚度值之間的差異�？s減率計算并顯示材料厚度變薄以后厚度縮減的百分比。對經(jīng)過彎曲變形并將制成車身面板的薄鋼板進(jìn)行的縮減率測量是一個典型的應(yīng)用。
奧林巴斯超聲波測厚儀45MG參數(shù)
測量
雙晶探頭測量模式 從激勵脈沖后的精確延遲到第YI個回波之間的時間間隔。
自動回波到回波•（可選）在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。
穿透涂層測量•（可選）利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度•
（使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探頭）
單晶探頭測量模式•
（可選）
模式1：• 激勵脈沖與第YI個底面回波之間的時間間隔
模式2：• 延遲塊回波與第YI個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊式或水浸式探頭）
模式3：• 在激勵脈沖之后，位于第YI個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔•（使用延遲塊式或水浸式探頭）
厚度范圍 • 0.080•mm～635•mm，視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量*全的范圍需要使用單晶選項）
材料聲速范圍 0.508•mm/μs～18.699•mm/μs
分辨率•（可選擇）
低分辨率：0.1毫米
標(biāo)準(zhǔn)分辨率：0.01毫米
單晶選項：0.001毫米
探頭頻率范圍 標(biāo)準(zhǔn)：2.25•MHz～30•MHz（–3•dB）
高穿透（單晶選項）：0.50•MHz～30•MHz（–3•dB）
一般規(guī)格
操作溫度范圍 –10•℃～50•℃
鍵盤 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋
機殼 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密
封。設(shè)計符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
外型尺寸（寬•x•高•x•厚）• 總體尺寸：91.1毫米•x•162毫米•x•41.1毫米
重量 431克
電源 3節(jié)AA電池/USB電源供應(yīng)
電池工作時間
３節(jié)AA堿性電池：20到21小時•
•3節(jié)AA鎳氫電池：22到23小時
•3節(jié)AA鋰離子電池：35到36小時
標(biāo)準(zhǔn) 設(shè)計符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。
顯示
彩色透反QVGA顯示 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米•x•41.15毫米
檢波 全波、RF波、正半波、負(fù)半波（波形選項）
輸入/輸出
USB 2.0從接口
存儲卡 *大容量：2•GB可插拔MicroSD存儲卡
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器（可選）
數(shù)據(jù)記錄器 45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調(diào)用、清除
及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。
容量 475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形
文件名稱和ID編碼 32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼
文件結(jié)構(gòu) 6個標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu)
報告• 機載報告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計、帶有位置信息的*小值/*大值、*小值回顧、文件比較及報警報告
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留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
- 電 話：0755-83981822/82513866
- 手 機：13662293689
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